Industrie
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Tauchen Sie ein in detaillierte Artikel und Webinare, die sich mit effizienter Inspektion, optimierten Arbeitsabläufen und ergonomischem Komfort in industriellen und pathologischen Umgebungen befassen. Zu den behandelten Themen gehören Qualitätskontrolle, Materialanalyse, Mikroskopie in der Pathologie und vieles mehr. Sie erhalten wertvolle Einblicke in den Einsatz von Spitzentechnologien zur Verbesserung der Präzision und Effizienz von Fertigungsprozessen sowie zur präzisen pathologischen Diagnose und Forschung.
A Guide to Using Microscopy for Drosophila (Fruit Fly) Research
The fruit fly, typically Drosophila melanogaster, has been used as a model organism for over a century. One reason is that many disease-related genes are shared between Drosophila and humans. It is…
Zebrafisch-Forschung
Für optimale Ergebnisse während der Bewertung, Sortierung, Manipulation und Bildgebung von Modellorganismen ist es entscheidend feine Details und Strukturen genauestens zu erkennen. Das bildet die…
Präpariermikroskope
Wenn Sie Präparationen durchführen, verbringen Sie oft viele Stunden an den Okularen eines Präpariermikroskops. Bei Leica Microsystems können Sie aus einer Vielzahl von Mikroskopen und einem…
Depth of Field in Microscope Images
For microscopy imaging, depth of field is an important parameter when needing sharp images of sample areas with structures having significant changes in depth. In practice, depth of field is…
Rapidly Visualizing Magnetic Domains in Steel with Kerr Microscopy
The rotation of polarized light after interaction with magnetic domains in a material, known as the Kerr effect, enables the investigation of magnetized samples with Kerr microscopy. It allows rapid…
6-Inch Wafer Inspection Microscope for Reliably Observing Small Height Differences
A 6-inch wafer inspection microscope with automated and reproducible DIC (differential interference contrast) imaging, no matter the skill level of users, is described in this article. Manufacturing…
Visualizing Photoresist Residue and Organic Contamination on Wafers
As the scale of integrated circuits (ICs) on semiconductors passes below 10 nm, efficient detection of organic contamination, like photoresist residue, and defects during wafer inspection is becoming…
Graterkennung während der Batterieherstellung
Erfahren Sie, wie die optische Mikroskopie zur Graterkennung an Batterieelektroden und zur Bestimmung des Schadenspotenzials eingesetzt werden kann, um eine schnelle und zuverlässige…
Key Factors for Efficient Cleanliness Analysis
An overview of the key factors necessary for technical cleanliness and efficient cleanliness analysis concerning automotive and electronics manufacturing and production is provided in this article.
