Medizinische Fachgebiete
Medizinische Fachgebiete
Entdecken Sie eine umfassende Sammlung wissenschaftlicher und klinischer Ressourcen, die speziell für Ärzte im Gesundheitswesen entwickelt wurden, darunter Berichte von Kollegen, klinische Fallstudien und Symposien. Speziell für Neurochirurgen, Augenärzte, plastische und rekonstruktive Chirurgen, HNO-Ärzte und Zahnärzte. Diese Sammlung präsentiert die neuesten Fortschritte in der chirurgischen Mikroskopie. Entdecken Sie, wie modernste chirurgische Technologien wie AR-Fluoreszenz, 3D-Visualisierung und intraoperative OCT-Bildgebung eine sichere Entscheidungsfindung und Präzision bei komplexen Eingriffen ermöglichen.
6-Inch Wafer Inspection Microscope for Reliably Observing Small Height Differences
A 6-inch wafer inspection microscope with automated and reproducible DIC (differential interference contrast) imaging, no matter the skill level of users, is described in this article. Manufacturing…
Safe Wafer Loading for Microscope Inspection without Hand Contact
How automated silicon wafer loading for microscope inspection helps improve microelectronics process control and production efficiency is explained in this article. Manual handling of wafers has a…
Graterkennung während der Batterieherstellung
Erfahren Sie, wie die optische Mikroskopie zur Graterkennung an Batterieelektroden und zur Bestimmung des Schadenspotenzials eingesetzt werden kann, um eine schnelle und zuverlässige…
Quality Assurance Improvement Across Industries
Precision is paramount. Imagine a pacemaker that fails mid-operation or a semiconductor flaw that causes a critical system crash. In industries, such as medical devices, electronics, and…
Visualizing Photoresist Residue and Organic Contamination on Wafers
As the scale of integrated circuits (ICs) on semiconductors passes below 10 nm, efficient detection of organic contamination, like photoresist residue, and defects during wafer inspection is becoming…
Erkennung von Batteriepartikeln während des Produktionsprozesses
In diesem Artikel wird erläutert, wie die Partikelerkennung und -analyse von Batterien mit optischer Mikroskopie und Laserspektroskopie für eine schnelle, zuverlässige und kostengünstige…
Key Factors for Efficient Cleanliness Analysis
An overview of the key factors necessary for technical cleanliness and efficient cleanliness analysis concerning automotive and electronics manufacturing and production is provided in this article.
Rapid Semiconductor Inspection with Microscope Contrast Methods
Semiconductor inspection during the production of patterned wafers and ICs (integrated circuits) is important for identifying and minimizing defects. To increase the efficiency of quality control in…
Quality Control via Cross Sections of PCBs, PCBAs, ICs, and Batteries
Why cross sections of printed circuit boards (PCBs) and assemblies (PCBAs), integrated circuits (ICs), and battery components are useful for quality control (QC), failure analysis (FA), and research…
