Science Lab
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Cross-section Analysis for Electronics Manufacturing
This article describes cross-section analysis for electronics concerning quality control and failure analysis of printed circuit boards (PCBs) and assemblies (PCBAs), integrated circuits (ICs), etc.
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High-Quality EBSD Sample Preparation
This article describes a method for EBSD sample preparation of challenging materials. The high-quality samples required for electron backscatter diffraction are prepared with broad ion-beam milling.
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Querschnitt-Ionenstrahlfräsen von Batteriekomponenten
Für ein umfassendes Verständnis von Lithiumbatteriesystemen ist eine qualitativ hochwertige Oberflächenpräparation erforderlich, um die innere Struktur und Morphologie zu untersuchen. Aufgrund der…