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Partikel auf der Oberfläche einer Partikelfalle, die für die technische Sauberkeit bei der Batterieproduktion eingesetzt werden kann.

Erkennung von Batteriepartikeln während des Produktionsprozesses

In diesem Artikel wird erläutert, wie die Partikelerkennung und -analyse von Batterien mit optischer Mikroskopie und Laserspektroskopie für eine schnelle, zuverlässige und kostengünstige…
Preparation of an IC-chip cross section: grinding and polishing of the chip cross section.

Cross-section Analysis for Electronics Manufacturing

This article describes cross-section analysis for electronics concerning quality control and failure analysis of printed circuit boards (PCBs) and assemblies (PCBAs), integrated circuits (ICs), etc.
Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.

Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections

This article shows how electronic IC-chip cross sections can be efficiently and reliably prepared and then analyzed, both visually and chemically at the microscale, with the EM TXP and DM6 M LIBS…
Optical microscope image of salt contamination on an aluminum/silicon (Al/Si) surface. Credit: Gerweck GmbH, Germany.

Microscopic Defects in Electroplating

This free on-demand webinar shows how to identify quickly root causes of defects during electroplating of components with optical microscopy and LIBS (laser spectroscopy).
User analyzing particles and fibers on a filter for cleanliness analysis with the DM6 M LIBS 2-methods-in-1 solution.

Basics in Component Cleanliness Analysis

An overview on the basics of component cleanliness and analysis solutions that can be tailored to your specific needs is presented. For the automotive industry, obtaining results rapidly, accurately,…

Cleanliness Analysis with a 2-Methods-in-1 Solution

In this article, it is examined how an overall efficient and cost-effective cleanliness analysis workflow can be achieved with a 2-methods-in-1 materials analysis solution, combining optical…
The various solutions from Leica Microsystems for cleanliness analysis.

Factors to Consider for a Cleanliness Analysis Solution

Choosing the right cleanliness analysis solution is important for optimal quality control. This article discusses the important factors that should be taken into account to find the solution that best…
[Translate to German:] Particles and fibers on a filter which will be counted and analyzed for cleanliness

Effiziente Partikelzählung und -analyse

Dieser Bericht befasst sich mit der Partikelzählung und -analyse unter Verwendung der optischen Mikroskopie bei der technischen Sauberkeitsanalyse von Teilen und Komponenten. Die Partikelzählung und…
A stack of lithium-ion batteries

Quality Control Under the Microscope

Fast-rising demand for electric vehicles is one of the market’s main drivers, but there are other hotspots of growth, including the rise in renewable energy installations, such as photovoltaic panels,…
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