Science Lab

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Willkommen auf dem Wissensportal von Leica Microsystems. Hier finden Sie wissenschaftliches Forschungs- und Lehrmaterial rund um das Thema Mikroskopie. Das Portal unterstützt Anfänger, erfahrene Praktiker und Wissenschaftler gleichermaßen bei ihrer täglichen Arbeit und ihren Experimenten. Erkunden Sie interaktive Tutorials und Anwendungshinweise, entdecken Sie die Grundlagen der Mikroskopie ebenso wie High-End-Technologien. Werden Sie Teil der Science Lab Community und teilen Sie Ihr Fachwissen.
Strain from using a microscope can lead to musculoskeletal pain.

Microscope Ergonomics

This article explains microscope ergonomics and how it helps users work in comfort, enabling consistency and efficiency. Learn how to set up the workplace to keep good posture when using a microscope.
Spirogyra algae (Conjugation), Transmitted Light Differential Interference Contrast.

Differential Interference Contrast (DIC) Microscopy

This article demonstrates how differential interference contrast (DIC) can be actually better than brightfield illumination when using microscopy to image unstained biological specimens.
Inspection microscope image of a printed circuit board (PCB) taken with a ring light (RL) and near vertical illumination (NVI).

Microscope Illumination for Industrial Applications

Inspection microscope users can obtain information from this article which helps them choose the optimal microscope illumination or lighting system for inspection of parts or components.

Immersion Objectives

How an immersion objective, which has a liquid medium between it and the specimen being observed, helps increase the numerical aperture and microscope resolution is explained in this article.
Intensity distribution (arbitrary color coding) of an image of two points where the distance between them corresponds to the Rayleigh criterion.

Mikroskopische Auflösung: Konzepte, Faktoren und Berechnungen

Dieser Artikel erklärt in einfachen Worten mikroskopische Auflösungskonzepte wie die Airy-Scheibchen, das Abbe-Limit, das Rayleigh-Kriterium und der Halbwertsbreite (FWHM). Außerdem wird der…
The various solutions from Leica Microsystems for cleanliness analysis.

Factors to Consider for a Cleanliness Analysis Solution

Choosing the right cleanliness analysis solution is important for optimal quality control. This article discusses the important factors that should be taken into account to find the solution that best…
Partikel und Fasern auf einem Filter, die gezählt und auf Sauberkeit analysiert werden.

Effiziente Partikelzählung und -analyse

Dieser Bericht befasst sich mit der Partikelzählung und -analyse unter Verwendung der optischen Mikroskopie bei der technischen Sauberkeitsanalyse von Teilen und Komponenten. Die Partikelzählung und…
A stack of lithium-ion batteries

Quality Control Under the Microscope

Fast-rising demand for electric vehicles is one of the market’s main drivers, but there are other hotspots of growth, including the rise in renewable energy installations, such as photovoltaic panels,…
Partikel, die bei der Sauberkeitsanalyse von Teilen und Komponenten gefunden werden konnten.

Technische Sauberkeit von Automobilkomponenten und -teilen

In diesem Artikel werden die ISO-Norm 16232 und die VDA 19-Richtlinien erläutert und die Verfahren zur Partikelanalyse kurz zusammengefasst. Diese liefern wichtige Kriterien für die Sauberkeit von…
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