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Willkommen auf dem Wissensportal von Leica Microsystems. Hier finden Sie wissenschaftliches Forschungs- und Lehrmaterial rund um das Thema Mikroskopie. Das Portal unterstützt Anfänger, erfahrene Praktiker und Wissenschaftler gleichermaßen bei ihrer täglichen Arbeit und ihren Experimenten. Erkunden Sie interaktive Tutorials und Anwendungshinweise, entdecken Sie die Grundlagen der Mikroskopie ebenso wie High-End-Technologien. Werden Sie Teil der Science Lab Community und teilen Sie Ihr Fachwissen.
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Polarizing Microscope Image Gallery
How polarization microscope images can be used for analysis is shown in this gallery. Polarized light microscopy (also known as polarizing microscopy) is an important method for different fields and…
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Automotive Part Verification and Development according to Specifications
Automotive part verification during the development and production of parts and components by suppliers or manufacturers is important for ensuring that specifications are met. Specifications are…
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Visualizing Photoresist Residue and Organic Contamination on Wafers
As the scale of integrated circuits (ICs) on semiconductors passes below 10 nm, efficient detection of organic contamination, like photoresist residue, and defects during wafer inspection is becoming…
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Graterkennung während der Batterieherstellung
Erfahren Sie, wie die optische Mikroskopie zur Graterkennung an Batterieelektroden und zur Bestimmung des Schadenspotenzials eingesetzt werden kann, um eine schnelle und zuverlässige…
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Erkennung von Batteriepartikeln während des Produktionsprozesses
In diesem Artikel wird erläutert, wie die Partikelerkennung und -analyse von Batterien mit optischer Mikroskopie und Laserspektroskopie für eine schnelle, zuverlässige und kostengünstige…
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Key Factors for Efficient Cleanliness Analysis
An overview of the key factors necessary for technical cleanliness and efficient cleanliness analysis concerning automotive and electronics manufacturing and production is provided in this article.
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Rapid Semiconductor Inspection with Microscope Contrast Methods
Semiconductor inspection during the production of patterned wafers and ICs (integrated circuits) is important for identifying and minimizing defects. To increase the efficiency of quality control in…
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How to perform cross-section analysis for Quality Control of PCBs, PCBAs, ICs and batteries
Cross-section analysis for electronics concerning quality control and failure analysis of printed circuit boards (PCBs) and assemblies (PCBAs), integrated circuits (ICs), etc.
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Understanding Clearly the Magnification of Microscopy
To help users better understand the magnification of microscopy and how to determine the useful range of magnification values for digital microscopes, this article provides helpful guidelines.