Science Lab

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ライカマイクロシステムズのナレッジポータルでは、顕微鏡の基礎から最先端技術まで、幅広い情報を提供しています。初心者から熟練者、研究者、医師の皆様まで、日々の研究や実験に役立つ内容となっております。チュートリアルやアプリケーションノートを活用し、学びながら探究心を刺激してください。さらに、コミュニティに参加することで、知見を共有し、新たな発見へとつなげましょう。お気軽に参加いただき、互いの専門知識を深め合う場としてご活用ください。
Area of a printed circuit board (PCB) which was imaged with extended depth of field (EDOF) using digital microscopy.

顕微鏡を知る：被写界深度

顕微鏡において被写界深度は、凹凸の変化が⼤きい構造を持つ試料をピントがあったシャープに観察・撮像するために重要なパラメータです。被写界深度は、開⼝数、解像度、倍率の相関関係によって決定され、解像度とパラメータは反⽐例の関係にあります。被写界深度と解像度のバランスが最適になるように調整することができる顕微鏡もあります。
Extended Depth of Focus (EDOF) images

How To Create EDOF (Extended Depth of Focus) Images

Watch this video to see how you can rapidly record sharp optical microscope images of samples with a large height variation. This is done with the optional Extended Depth of Focus (EDOF) function of…
Schematic graph of the light path in a Spalt-Ultramikroskop.

Confocal and Light Sheet Imaging

Optical imaging instrumentation can magnify tiny objects, zoom in on distant stars and reveal details that are invisible to the naked eye. But it notoriously suffers from an annoying problem: the…

FusionOptics in Neurosurgery and Ophthalmology – for a Larger 3D Area in Focus

Neurosurgeons and ophthalmologists deal with delicate structures, deep or narow cavities and tiny structures with vitally important functions. A clear, three-dimensional view on the surgical field is…
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