Science Lab
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Willkommen auf dem Wissensportal von Leica Microsystems. Hier finden Sie wissenschaftliches Forschungs- und Lehrmaterial rund um das Thema Mikroskopie. Das Portal unterstützt Anfänger, erfahrene Praktiker und Wissenschaftler gleichermaßen bei ihrer täglichen Arbeit und ihren Experimenten. Erkunden Sie interaktive Tutorials und Anwendungshinweise, entdecken Sie die Grundlagen der Mikroskopie ebenso wie High-End-Technologien. Werden Sie Teil der Science Lab Community und teilen Sie Ihr Fachwissen.
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Workflow Solutions for Sample Preparation Methods for Material Science
This brochure presents and explains appropriate workflow solutions for the most frequently required sample preparation methods for material science samples.
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Automatic Alignment of Sample and Knife for High Sectioning Quality
Automatic alignment of sample and knife on the ultramicrotome UC Enuity, enabling even untrained users to create ultrathin sections with reduced risk of losing precious sections.
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High Quality Sectioning in Ultramicrotomy
Discover the significance of achieving high-quality uniform sections with ultramicrotomy for precise imaging in electron microscopy.
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Quality Control via Cross Sections of PCBs, PCBAs, ICs, and Batteries
Why cross sections of printed circuit boards (PCBs) and assemblies (PCBAs), integrated circuits (ICs), and battery components are useful for quality control (QC), failure analysis (FA), and research…
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Erforschung der Virusreplikaton mit Fluoreszenzmikroskopie
Viren können mit Hilfe verschiedener Mikroskopietechniken untersucht werden. Je nach Vergrößerung und Auflösung des Mikroskops kann die Beobachtung auf Gewebe-, Zell- oder Virionenebene erfolgen.
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Five Inverted-Microscope Advantages for Industrial Applications
With inverted microscopes, you look at samples from below since their optics are placed under the sample, with upright microscopes you look at samples from above. Traditionally, inverted microscopes…
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Ultramicrotomy Techniques for Materials Sectioning
Learn about ultramicrotomy for materials sectioning when investigating polymers and brittle materials with transmission (TEM) or scanning electron microscopy (SEM) or atomic force microscopy.
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Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections
This article shows how electronic IC-chip cross sections can be efficiently and reliably prepared and then analyzed, both visually and chemically at the microscale, with the EM TXP and DM6 M LIBS…
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Hochwertige EBSD-Probenvorbereitung
Es wird eine zuverlässige und effiziente EBSD-Probenvorbereitung von „gemischten“ kristallografischen Materialien mit Ionenbreitstrahlfräsen beschrieben. Das beschriebene Verfahren erzeugt…